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淺析WLP-205平均粒度儀兩種常見的原理
WLP-205平均粒度儀是用于測量物料顆粒平均粒徑的儀器。它通過測量和分析物料中顆粒的大小分布來提供粒度信息。兩種常見的原理:激光衍射原理是一種常用的粒度測量方法。該原理基于散射現象,通過物料中顆粒對激光光束的散射,測量顆粒的大小。當激光照射到樣品中的顆粒上時,顆粒會散射光線,散射角度與顆粒的大小有關。通過檢測散射光的角度和強度,可以計算出顆粒的平均粒徑和粒度分布。動態光散射原理是另一種常見的粒度測量方法。該原理基于顆粒在液體或氣體介質中的運動狀態。當激光照射到顆粒懸浮液或顆...
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2023-07-24
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丹東費氏粒度儀是測量顆粒物粒徑的實驗儀器
丹東費氏粒度儀是一種測量細小顆粒粒徑的實驗儀器。它的原理是利用空氣阻力對樣品的細小粒子進行快速均勻處理并生成粒度分布直方圖數據,粉體的粒度特征值可以由滑動平均和積分計算得出。內部設有自動馬赫數調節系統,根據被測樣品量來調整高壓氣流速度,使被測試物料在預設的規定時間段內達到可靠的單向沖擊效果,從而保證粒度分析結果的準確性和重復性。具體操作時,在溫度恒定條件下將待測試物料加入測試器內,開啟氣源以形成高壓氣流,通過管道噴射碰撞顆粒,將粒級的微小顆粒拋進狹窄的通道中,通過薄棱及磨損較...
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2023-06-26
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丹東平均粒度儀是一種常見的粒度檢測設備
丹東平均粒度儀是一種常見的粒度檢測設備,可以用于測量物料中固體顆粒的平均粒徑,包括粒徑分布、體積分布和數目分布,具有測量方便、快速、準確等優點。原理主要包括激光衍射原理、多角度激光衍射原理和動態光散射原理。激光衍射原理是平均粒度儀常用的測量原理,其主要是依靠激光束通過樣品中顆粒時的散射光在不同角度下的強度來確定顆粒的粒徑大小。在測量過程中,先將樣品經過適當處理后,使其形成單個顆粒分布,則激光束照射到顆粒上時會產生衍射,這些散射光會在多個不同的角度下被檢測。然后通過對檢測到的光...
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2023-05-26
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粉末平均粒度測定儀的這些知識值得我們學習
粉末平均粒度測定儀又稱為激光粒度儀,它利用了楊氏功率譜法(即Mie散射方法)的原理。這種方法首先由德國物理學家G.Mie在1908年提出。該方法是通過測量粒子在一個向外擴散的光束中相對的光強度而進行的。當一個單色激光入射到包含粉體的樣品池中時,被照射粉末的顆粒會發生散射現象,且每個顆粒都有所不同的方向和強度。檢測儀器會記錄下粉末中不同角度散射光線的強度分布情況。根據不同粒徑粒子對散射的強度分布的影響,可以計算得到樣品中顆粒的平均粒徑大小。粉末平均粒度測定儀功能特點:1、可以測...
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2023-04-14
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WLP-208平均粒度儀的一些具體應用
WLP-208平均粒度儀是一種用于測量顆粒大小分布的儀器。它可以用于各種顆粒材料,如粉末、顆粒、顆粒狀物質、液滴、氣溶膠和懸浮液等。基于光散射和激光多次散射。當激光束通過樣品時,光線會被顆粒散射,形成散射光。散射光的強度和顆粒的大小、形狀、折射率和濃度等因素有關。通過測量散射光的強度和角度,可以計算出顆粒的平均粒徑和粒徑分布。WLP-208平均粒度儀的一些具體應用:1.用于檢測藥物微粒的大小和分布,以確保藥品的效果和穩定性。2.用于測量顏料、涂料、粉末和乳液等的顆粒大小和分布...
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2023-03-27
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平均粒度測定儀測試條件的差異將影響粒度測試的結果
平均粒度測定儀是用空氣透過原理研制的快速測定粉末顆粒平均粒徑的儀器,通稱費氏儀(Fsss)又稱費氏超細篩。是磁性材料、粉末冶金、難熔金屬、特種陶瓷、鎢鉬材料、硬質合金、有色金屬、非金屬、化工、建材功能材料及粉末研究和生產不可少的檢測手段。平均粒度測定儀測試條件的差異將影響粒度測試的結果:在實際激光粒度儀測試過程中,存在例如取樣代表性、儀器對中調節、光學參數及樣品循環參數設定,分散介質、分散劑、穩定劑的選擇和質量,樣品處理步驟等多種人為因素,以及溫度變化,電源穩定性,震動等客觀...
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2023-02-13
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